分子束外延(MBE)技術(shù):復(fù)雜氧化物的原子級精準(zhǔn)控制
本文圍繞分子束外延(MBE)技術(shù)展開,詳細(xì)介紹其原理、分類、優(yōu)勢、在材料合成中的應(yīng)用及相關(guān)研究成果,凸顯該技術(shù)在原子級材料調(diào)控領(lǐng)域的重要價值。
一、MBE技術(shù)基礎(chǔ)
(一)核心定義與原理
MBE是一種具備原子層控制精度的高真空技術(shù),以特定蒸發(fā)源蒸發(fā)的原子、分子或原子團在襯底上發(fā)生化學(xué)反應(yīng)為基礎(chǔ)。其分子束呈單向彈道式流動,粒子間無碰撞,能實現(xiàn)精準(zhǔn)的材料生長。
(二)生長環(huán)境與分類
1. 常規(guī)MBE:通常在真空和超高真空(10-8–10-12 mbar)環(huán)境下進(jìn)行,其初用于GaAs和(Al, Ga)As體系的生長,后拓展至其他材料系統(tǒng)研究。
2. 反應(yīng)性MBE:在生長室中引入額外氣體輔助生長,主要用于氮化物或氧化物材料制備。以反應(yīng)性氧化物MBE為例,它兼具超高真空MBE和高氧化條件的優(yōu)勢,但需精準(zhǔn)控制氣體負(fù)載及配備合適的抽氣系統(tǒng),且為保證蒸發(fā)原子的彈道路徑,生長室壓力上限約為10-4mbar,常選用高反應(yīng)性的純臭氧作為氧化氣體。
3. 關(guān)聯(lián)技術(shù):原子層沉積(ALD)技術(shù)可通過前驅(qū)體在表面的順序吸附與脫附,實現(xiàn)類似MBE的多樣性及原子層(AL)級精準(zhǔn)合成。

(三)設(shè)備構(gòu)成
以馬克斯·普朗克固體研究所的臭氧輔助MBE設(shè)備為例,主要包含負(fù)載鎖(1)、儲存室(2)、中央研究室(3)、兩個生長室(4)和臭氧輸送系統(tǒng)(5),配備RHEED(反射高能電子衍射)系統(tǒng)、RGA(殘余氣體分析儀)、TP(渦輪分子泵)等控制與檢測部件,由Pc1和Pc2計算機分別控制RHEED系統(tǒng)及生長室本身,實現(xiàn)生長過程的精準(zhǔn)調(diào)控與監(jiān)測。
臭氧輸送系統(tǒng)可選方案:ALD PLD用高濃度臭氧發(fā)生器 Apex H30
二、MBE技術(shù)的核心優(yōu)勢
1. 材料選擇靈活多樣:MBE系統(tǒng)可配備蒸發(fā)源,且蒸發(fā)源能重新裝載不同元素,為合成新型化合物提供豐富選擇,在目標(biāo)化合物選擇上具有高通用性與靈活性。
2. 生長過程可控可靠:系統(tǒng)搭載RHEED工具,借助表面衍射電子實時監(jiān)測表面質(zhì)量,結(jié)合低能電子衍射(LEED)、角分辨光電子能譜(ARPES)等原位工具,可實現(xiàn)低沉積速率(通常為1單層/分鐘)下的精準(zhǔn)沉積控制。
3. 原子層級沉積:采用選擇性原子層沉積(一次沉積一層原子層),并能精準(zhǔn)控制雜質(zhì)濃度,為設(shè)計功能性異質(zhì)結(jié)構(gòu)、合成新型亞穩(wěn)態(tài)化合物奠定基礎(chǔ)。
4. 低入射原子能量:與其他物理沉積方法不同,MBE的入射原子能量極低 (<0.1eV),能很大限度減少界面處不期望的陽離子混合,實現(xiàn)原子級厚度可控的異質(zhì)結(jié)構(gòu)設(shè)計,形成陡峭的異質(zhì)界面。
三、MBE技術(shù)的應(yīng)用領(lǐng)域
(一)半導(dǎo)體領(lǐng)域
憑借精準(zhǔn)的生長控制能力,MBE制備的異質(zhì)結(jié)構(gòu)是二極管、晶體管、太陽能電池、微處理器及存儲器件等電子元件的核心構(gòu)建模塊,支撐半導(dǎo)體技術(shù)近50余年的微型化發(fā)展。
(二)復(fù)雜氧化物領(lǐng)域
1. 背景驅(qū)動:1986年La-BaCu-O化合物中高溫超導(dǎo)性(HTSC)的發(fā)現(xiàn),激發(fā)了對復(fù)雜氧化物家族的研究興趣,推動MBE技術(shù)在該領(lǐng)域的應(yīng)用。
2. 材料結(jié)構(gòu)與制備
- 晶體結(jié)構(gòu):復(fù)雜氧化物多為離子晶體結(jié)構(gòu),過渡金屬(TM)離子位于晶胞中心,其層狀晶體結(jié)構(gòu)常用Ruddlesden-Popper(RP)相表示,化學(xué)式為An+1BnO3n+1(A為堿金屬、堿土金屬或稀土金屬,B為過渡金屬,n為整數(shù)),由二維類鈣鈦礦層板構(gòu)成(圖2a),MBE可精準(zhǔn)設(shè)計此類結(jié)構(gòu)。
- 制備方法:原子層逐層(AL-by-AL)沉積法適用于層狀氧化物制備,通過快門控制實現(xiàn)組成原子的精準(zhǔn)計數(shù),快門時間根據(jù)各元素源的通量單獨確定。例如,制備具有n=1的RP晶體結(jié)構(gòu)的La2CuO4(A=La,B=Cu)時,La和Cu快門的操作順序由計算機控制,且整個過程通過原位RHEED實時監(jiān)測(圖2b)。

3. 性能與應(yīng)用潛力:復(fù)雜氧化物的鈣鈦礦結(jié)構(gòu)使其可形成超薄薄膜或異質(zhì)結(jié)構(gòu),且具備從高溫超導(dǎo)性(HTSC)到熱電性等多樣物理特性,為器件制造和應(yīng)用提供豐富的多層組合方案,包括同質(zhì)外延生長(如相同材料、相同晶體結(jié)構(gòu)的超晶格)和異質(zhì)外延生長(如不同化學(xué)組成、不同晶體結(jié)構(gòu)材料的堆疊)。
4. 界面工程與表征:不同材料相鄰形成的異質(zhì)界面因強電子關(guān)聯(lián)會產(chǎn)生新的界面特性,原子級精準(zhǔn)設(shè)計復(fù)雜氧化物異質(zhì)結(jié)構(gòu)需對單層和界面進(jìn)行原子分辨率識別。像像差校正掃描透射電子顯微鏡(STEM)憑借高分辨率成像和光譜分析能力(如STEM高角環(huán)形暗場(HAADF)成像),可清晰呈現(xiàn)異質(zhì)結(jié)構(gòu)的理想晶體排列(無擴展缺陷),例如三種基于La2CuO4(LCO)的異質(zhì)結(jié)構(gòu)(LCO-LSNO-LCO、LCO-LNO-LGO、LCO-SMO/LMO-LCO)在(001)LSAO晶體襯底上的結(jié)構(gòu)連貫性(圖3a-c)。

四、總結(jié)與展望
MBE技術(shù)不僅能高質(zhì)量制備半導(dǎo)體材料,還可有效合成復(fù)雜氧化物等難合成化合物,且制備的復(fù)雜氧化物晶體質(zhì)量可與半導(dǎo)體多層膜媲美,界面更陡峭。目前,復(fù)雜氧化物已得到廣泛研究,盡管新物質(zhì)的實際應(yīng)用仍需時間,但相關(guān)領(lǐng)域已取得顯著進(jìn)展。
五、作者信息
- Y. Eren Suyolcu:美國康奈爾大學(xué)材料科學(xué)與工程系博士后研究員,曾在德國馬克斯·普朗克固體研究所完成博士研究,現(xiàn)專注于氧化物MBE生長及氧化物異質(zhì)結(jié)構(gòu)與界面的像差校正STEM研究。
- Gennady Logvenov:德國馬克斯·普朗克固體研究所薄膜科學(xué)設(shè)施負(fù)責(zé)人,擁有多家世界級國際機構(gòu)工作經(jīng)歷,自2011年起領(lǐng)導(dǎo)團隊制備高質(zhì)量氧化物異質(zhì)結(jié)構(gòu)。